Equipments Details
Description
1. 원자현미경은 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 탐침을 시료표면에 가져갔을 때 생기는 원자간의 상호작용력을 측정
2. 시료의 표면을 nm 단위 이하로 3차원적 형상 분석 함
3. 대기중에서 극초정밀 분해능으로 도체, 반도체, 부도체등 모든 시료의 표면 관찰
4. 하드웨어적인 Closed-loop Feedback 제어로 왜곡현상 없는 이미지 화상 도출
5. 수직(Z) 스캐너와 수평(XY) 스캐너를 분리하여 상호간섭 배제
6. 튜브 스캐너 대비 약 3 ~ 5 배 속도
7. 측정 기능 :Contact AFM, True Non-contact AFM, LFM, Phase Imaging, Force vs. Distance curve,FMM, Nanoindentation, MFM, EFM, DC-EFM, KPFM, Sideband KPFM, PFM, DFRT-PFMConductive AFM, STM 그리고 Temperature Control Stage
2. 시료의 표면을 nm 단위 이하로 3차원적 형상 분석 함
3. 대기중에서 극초정밀 분해능으로 도체, 반도체, 부도체등 모든 시료의 표면 관찰
4. 하드웨어적인 Closed-loop Feedback 제어로 왜곡현상 없는 이미지 화상 도출
5. 수직(Z) 스캐너와 수평(XY) 스캐너를 분리하여 상호간섭 배제
6. 튜브 스캐너 대비 약 3 ~ 5 배 속도
7. 측정 기능 :Contact AFM, True Non-contact AFM, LFM, Phase Imaging, Force vs. Distance curve,FMM, Nanoindentation, MFM, EFM, DC-EFM, KPFM, Sideband KPFM, PFM, DFRT-PFMConductive AFM, STM 그리고 Temperature Control Stage

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Fingerprint
Explore the research areas in which this equipment has been used. These labels are generated based on the related outputs. Together they form a unique fingerprint.