Atomic Force Microscope

    Equipment/facility: Equipment

      Equipments Details

      Description

      1. 원자현미경은 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 탐침을 시료표면에 가져갔을 때 생기는 원자간의 상호작용력을 측정
      2. 시료의 표면을 nm 단위 이하로 3차원적 형상 분석 함
      3. 대기중에서 극초정밀 분해능으로 도체, 반도체, 부도체등 모든 시료의 표면 관찰
      4. 하드웨어적인 Closed-loop Feedback 제어로 왜곡현상 없는 이미지 화상 도출
      5. 수직(Z) 스캐너와 수평(XY) 스캐너를 분리하여 상호간섭 배제
      6. 튜브 스캐너 대비 약 3 ~ 5 배 속도
      7. 측정 기능 :Contact AFM, True Non-contact AFM, LFM, Phase Imaging, Force vs. Distance curve,FMM, Nanoindentation, MFM, EFM, DC-EFM, KPFM, Sideband KPFM, PFM, DFRT-PFMConductive AFM, STM 그리고 Temperature Control Stage

      Fingerprint

      Explore the research areas in which this equipment has been used. These labels are generated based on the related outputs. Together they form a unique fingerprint.